珠寶玉石檢測中的X熒光光譜法

當(dāng)下珠寶玉石行業(yè)，X熒光光譜法是珠寶玉石鑒定的主要手段之一。X射線熒光光譜技術(shù)在樣品的主要成分無損定量和定性分析上得到廣泛應(yīng)用，成為貴金屬飾品檢測領(lǐng)域的重要手段。X射線作為一種電磁輻射，波長介于紫外線和射線之間，這種電磁輻射波長沒有嚴(yán)格的界限，隨著探測技術(shù)的發(fā)展，用X射線熒光光譜進(jìn)行定量分析，已經(jīng)成為了元素分析的重要手段。X熒光光譜法在當(dāng)今珠寶玉石行業(yè)檢測中得到了廣泛應(yīng)用，這一方法對(duì)寶石不會(huì)造成損傷，同時(shí)也能夠提高檢測效率。使用X射線照射被測物，被測物激發(fā)出不同波長的熒光X射線，用儀器對(duì)波長不同的X射線進(jìn)行接收分離，從而判斷其中的組成元素,對(duì)組成元素含量具體分析，檢測出珠寶玉石是否是合成和有無經(jīng)過優(yōu)化處理等。X熒光光譜儀利用這一原理進(jìn)行檢測，有能量色散型X熒光光譜儀、波長色散型X熒光光譜儀之分。

X熒光光譜法在珠寶玉石檢測中應(yīng)用廣泛，其主要優(yōu)勢(shì)體現(xiàn)在分析速度、檢測對(duì)象、分析密度等多方面。X射線在珠寶玉石檢測中不會(huì)對(duì)珠寶玉石造成損壞，與其他檢測方式相比具有*的優(yōu)勢(shì)，同時(shí)也是對(duì)檢測質(zhì)量的有效保障。X熒光光譜儀分析速度快，在整個(gè)珠寶玉石檢測上僅僅需要幾分鐘就可以完成對(duì)一件珠寶玉石元素含量的檢測，檢測速度極快，在實(shí)際珠寶檢測中體現(xiàn)出明顯的效率優(yōu)勢(shì)。X熒光光譜技術(shù)對(duì)檢測對(duì)象的形狀、形態(tài)等條件沒有局限性，X熒光光譜儀在珠寶玉石檢測工作中不會(huì)受寶石形狀、化學(xué)結(jié)合狀態(tài)等條件影響，適用性廣泛。X熒光光譜技術(shù)在珠寶玉石檢測中的分析精密度*，這是電磁輻射在珠寶玉石檢測中的優(yōu)勢(shì)，這種物理分析方法對(duì)檢測物中元素的化學(xué)性質(zhì)分析有很高的效率，隨著現(xiàn)代科學(xué)技術(shù)的飛速發(fā)展，X熒光光譜技術(shù)在珠寶玉石檢測領(lǐng)域的應(yīng)用會(huì)在泛度和深度上得到更大發(fā)展。

X熒光光譜儀在珠寶玉石檢測中的應(yīng)用

X熒光光譜儀在珠寶玉石檢測中的具體應(yīng)用主要有相似珠寶玉石鑒別、優(yōu)化處理珠寶玉石鑒別、類質(zhì)同象珠寶玉石研究等幾個(gè)方面，同時(shí)在珠寶玉石元素的方面，從實(shí)際檢測數(shù)據(jù)分析中可以驗(yàn)證X熒光光譜儀在珠寶玉石檢測上的可行性，這對(duì)解決傳統(tǒng)檢測手段無法測出一些珠寶玉石中的元素類別、含量等問題上有很大幫助。

X熒光光譜技術(shù)在珠寶玉石無損檢測上的高效率體現(xiàn)在相似珠寶玉石的鑒定上，從珠寶玉石的元素組成上對(duì)相似珠寶玉石進(jìn)行鑒定和輔助分析。珠寶玉石原料種類較多，存在性質(zhì)相似的情況，傳統(tǒng)檢測手段很難有精準(zhǔn)的檢測結(jié)果，一些原料品種在外觀形態(tài)上很難區(qū)分，內(nèi)部折射率和密度也極為相似，在傳統(tǒng)檢測手段上存在較大難度，應(yīng)用X熒光光譜儀進(jìn)行技術(shù)分析，對(duì)相似珠寶玉石的內(nèi)部元素含量進(jìn)行更為精確的分析，從X射線熒光光譜圖中可以很容易區(qū)分出來相似珠寶玉石的不同之處。這一技術(shù)在鑒別紫晶和紫色方柱石等相似類型的寶石上有顯著的效率優(yōu)勢(shì)。

X熒光光譜儀對(duì)當(dāng)今珠寶玉石行業(yè)中優(yōu)化處理技術(shù)下的寶石也有明顯優(yōu)勢(shì)，對(duì)優(yōu)化處理后的珠寶玉石進(jìn)行技術(shù)分析，鑒別天然寶石和人工合成技術(shù)下的成品，現(xiàn)代優(yōu)化處理技術(shù)下出現(xiàn)的高仿珠寶玉石成品流入珠寶玉石市場，很容易迷惑消費(fèi)者。因此通過X熒光光譜儀對(duì)優(yōu)化處理技術(shù)產(chǎn)生的人工合成品進(jìn)行鑒別，能夠幫助消費(fèi)者識(shí)別優(yōu)化處理珠寶玉石與天然寶石。珠寶玉石中的紅寶石人工合成制作過程中采用鉛玻璃填充方法，其效果與天然紅寶石相似性較高，X熒光光譜儀能夠分辨出兩者之間的差異性，人工合成品中明顯的鉛元素在X熒光光譜儀中能夠較容易鑒別出來與天然紅寶石的細(xì)微不同之處。寶石優(yōu)化處理技術(shù)在X熒光光譜儀應(yīng)用于珠寶玉石檢測后能夠更容易鑒別出來，同時(shí)X熒光光譜儀在輔助分析、鑒別合成翡翠、珍珠等珠寶玉石方面也有著明顯優(yōu)勢(shì)。

X熒光光譜儀在珠寶玉石檢測中的應(yīng)用還體現(xiàn)在類質(zhì)同象珠寶玉石方面上，類質(zhì)同象在珠寶玉石檢測中主要是晶體結(jié)構(gòu)中的離子、原子等結(jié)構(gòu)類型上的線性變化現(xiàn)象，在這一現(xiàn)象的檢測研究上確定珠寶玉石中類質(zhì)同象系列的名稱，能夠有效提升珠寶玉石檢測的效率和質(zhì)量，這一過程中X熒光光譜儀的應(yīng)用有著重要作用，珠寶玉石中的元素分析和含量統(tǒng)計(jì)分析為類質(zhì)同象珠寶玉石的準(zhǔn)確性檢測體提供了有效的數(shù)據(jù)幫助。X熒光光譜儀隨著X射線熒光光譜技術(shù)的發(fā)展不斷發(fā)展完善，在珠寶玉石鑒定領(lǐng)域依靠技術(shù)手段提高檢測的效率，不僅適用于以上幾種珠寶玉石檢測情況，隨著未來科學(xué)技術(shù)水平的不斷提高，珠寶玉石行業(yè)的發(fā)展也會(huì)不斷出現(xiàn)新的發(fā)展方向。

日本理學(xué)波長色散X射線熒光光譜儀

ZSX Primus IV

1.高度可靠性的上照射式光學(xué)系統(tǒng)
ZSX Primus IV具有場新的上照射式光學(xué)配置。用戶再也不用擔(dān)心由于維護(hù)樣品室導(dǎo)致的路徑污染或停止時(shí)間。上照射式幾何結(jié)構(gòu)消除了清掃的擔(dān)心并增加了時(shí)間。

2.高精度樣品定位
高精度樣品定位確保了樣品表面與X設(shè)吸納管之間的距離恒定。這對(duì)例如合金分析等需要高精度的應(yīng)用非常重要。ZSX Primus IV使用一個(gè)*的光學(xué)配置執(zhí)行高精度分析，用于減少由于例如電熔銖和壓片等樣品中的非平面表面導(dǎo)致的錯(cuò)誤。

3.SQX 基本參數(shù)軟件與EZ掃描軟件
用戶使用EZ掃描軟件可以在無需任何事先設(shè)置即可分析位置樣品。這個(gè)節(jié)省時(shí)間的特征僅需點(diǎn)擊鼠標(biāo)和輸入樣品名稱。結(jié)合SQX基本參數(shù)軟件，快速提供最準(zhǔn)確的XRF結(jié)果。SQX能夠自動(dòng)校正包括線重疊的所有矩陣效果。SQX還可以通過光電子（輕、超輕元素）、變化的環(huán)境、雜質(zhì)和不同的樣品尺寸校正輔助的激發(fā)效應(yīng)。使用匹配庫和掃描分析程序提高準(zhǔn)確性。